ДАМИ-С

Портативный дефектоскоп, предназначенный для обнаружения дефектов, расслоений, непроклеев, нарушений целостности композитных материалов и сотовых структур.

Благодаря своим уникальным функциональным возможностям, прибор позволяет автоматизировать процесс обнаружения дефектов за счет автоматической настойки резонатора на объект контроля с учетом плотности и структуры материала.

Решена проблема визуализации дефекта относительно координат контролируемого объекта за счет применения акустического сканера местоположения.

ДАМИ-С предназначен для контроля:

• слоистых конструкций из неметаллических материалов (углепластиков, стеклопластиков, текстолитов) толщиной 1...50мм;
• сотовых конструкций: с неметаллическими обшивками толщиной 0.5...5 мм и сотами из полиамидной бумаги или других материалов высотой 5...120 мм; с металлическими обшивками (в том числе перфорированными) толщиной 0.5...5 мм и сотами высотой 10...120 мм;
• конструкций с различными заполнителями, в том числе типа ТЗП;
• слоистых клееных конструкций (2-х, 3-х, 4-х слойных) общей толщиной до 100мм;
• грубых сотовых и иных конструкций с регулярно меняющимся импедансом поверхности и (или) переменной толщиной.